Spannungsfestigkeit und Reproduzierbarkeit bei Hohlelektrodenschaltern nach dem Pseudofunkenprinzip

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Title:	Spannungsfestigkeit und Reproduzierbarkeit bei Hohlelektrodenschaltern nach dem Pseudofunkenprinzip
Authors:	Branston, D. W., Falkenberg, D., Lins, G., Rohde, K.-D.
Source:	ITG FACHBERICHT. (120):155-155
Availability:	http://explore.bl.uk/primo_library/libweb/action/display.do?tabs=detailsTab&gathStatTab=true&ct=display&fn=search&doc=ETOCEN001164545&indx=1&recIds=ETOCEN001164545
Database:	British Library Document Supply Centre Inside Serials & Conference Proceedings

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ISSN:	03410196
Published in:	ITG FACHBERICHT