Reflectance of Silicon Photomultipliers at Vacuum Ultraviolet Wavelengths

Authors: Lv, P., Cao, G.F., Wen, L.J., Kharusi, S.A., Anton, G., Arnquist, I.J., Badhrees, I., Barbeau, P.S., Beck, D., Belov, V., Bhatta, T., Breur, P.A., Brodsky, J.P., Brown, E., Brunner, T., Mamahit, S.B., Caden, E., Cao, L., Chambers, C., Chana, B., Charlebois, S.A., Chiu, M., Cleveland, B., Coon, M., Craycraft, A., Dalmasson, J., Daniels, T., Darroch, L., St. Croix, A.D., Mesrobian-Kabakian, A.D., Deslandes, K., DeVoe, R., Vacri, M.L.D., Dilling, J., Ding, Y.Y., Dolinski, M.J., Doria, L., Dragone, A., Echevers, J., Edaltafar, F., Elbeltagi, M., Fabris, L., Fairbank, D., Fairbank, W., Farine, J., Ferrara, S., Feyzbakhsh, S., Fucarino, A., Gallina, G., Gautam, P., Giacomini, G., Goeldi, D., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E.V., Heffner, M., Hoppe, E.W., Hobl, J., House, A., Hughes, M., Iverson, A., Jamil, A., Jewell, M.J., Jiang, X.S., Karelin, A., Kaufman, L.J., Koffas, T., Krucken, R., Kuchenkov, A., Kumar, K.S., Lan, Y., Larson, A., Leach, K.G., Lenardo, B.G., Leonard, D.S., Li, G., Li, S., Li, Z., Licciardi, C., MacLellan, R., Massacret, N., McElroy, T., Medina-Peregrina, M., Michel, T., Mong, B., Moore, D.C., Murray, K., Nakarmi, P., Natzke, C.R., Newby, R.J., Ning, Z., Njoya, O., Nolet, F., Nusair, O., Odgers, K., Odian, A., Oriunno, M., Orrell, J.L., Ortega, G.S., Ostrovskiy, I., Overman, C.T., Parent, S., Piepke, A., Pocar, A., Pratte, J.-., Radeka, V., Raguzin, E., Rescia, S., Retiere, F., Richman, M., Robinson, A., Rossignol, T., Rowson, P.C., Roy, N., Runge, J., Saldanha, R., Sangiorgio, S., Skarpaas, K., Soma, A.K., St-Hilaire, G., Stekhanov, V., Stiegler, T., Sun, X.L., Tarka, M., Todd, J., Totev, T.I., Tsang, R., Tsang, T., Vachon, F., Veeraraghavan, V., Viel, S., Visser, G., Vivo-Vilches, C., Vuilleumier, J., Wagenpfeil, M., Wager, T., Walent, M., Wang, Q., Watkins, J., Wei, W., Wichoski, U., Wu, S.X., Wu, W.H., Wu, X., Xia, Q., Yang, H., Yang, L., Zeldovich, O., Zhao, J., Zhou, Y., Ziegler, T.

Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 67(12):2501-2510 Dec, 2020

Characterization of SiPM Avalanche Triggering Probabilities

Authors: Gallina, G., Retiere, F., Giampa, P., Kroeger, J., Margetak, P., Byrne Mamahit, S., De St. Croix, A., Edaltafar, F., Martin, L., Massacret, N., Ward, M., Zhang, G.

Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 66(10):4228-4234 Oct, 2019

Event Reconstruction in a Liquid Xenon Time Projection Chamber with an Optically-Open Field Cage

Authors: Stiegler, T., Sangiorgio, S., Brodsky, J. P., Heffner, M., Kharusi, S. Al, Anton, G., Arnquist, I. J., Badhrees, I., Barbeau, P. S., Beck, D., Belov, V., Bhatta, T., Bolotnikov, A., Breur, P. A., Brown, E., Brunner, T., Caden, E., Cao, G. F., Cao, L., Chambers, C., Chana, B., Charlebois, S. A., Chiu, M., Cleveland, B., Coon, M., Craycraft, A., Dalmasson, J., Daniels, T., Darroch, L., Croix, A. De St., Der Mesrobian-Kabakian, A., Deslandes, K., DeVoe, R., Di Vacri, M. L., Dilling, J., Ding, Y. Y., Dolinski, M. J., Dragone, A., Echevers, J., Edaltafar, F., Elbeltagi, M., Fabris, L., Fairbank, D., Fairbank, W., Farine, J., Ferrara, S., Feyzbakhsh, S., Gallina, G., Gautam, P., Giacomini, G., Goeldi, D., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E. V., Hoppe, E. W., Hößl, J., House, A., Hughes, M., Iverson, A., Jamil, A., Jewell, M. J., Jiang, X. S., Karelin, A., Kaufman, L. J., Koffas, T., Krücken, R., Kuchenkov, A., Kumar, K. S., Lan, Y., Larson, A., Leach, K. G., Lenardo, B. G., Leonard, D. S., Li, G., Li, S., Li, Z., Licciardi, C., Lv, P., MacLellan, R., Massacret, N., McElroy, T., Medina-Peregrina, M., Michel, T., Mong, B., Moore, D. C., Murray, K., Nakarmi, P., Natzke, C. R., Newby, R. J., Ni, K., Ning, Z., Njoya, O., Nolet, F., Nusair, O., Odgers, K., Odian, A., Oriunno, M., Orrell, J. L., Ortega, G. S., Ostrovskiy, I., Overman, C. T., Parent, S., Piepke, A., Pocar, A., Pratte, J. -F., Radeka, V., Raguzin, E., Rescia, S., Retière, F., Richman, M., Robinson, A., Rossignol, T., Rowson, P. C., Roy, N., Saldanha, R., VIII, K. Skarpaas, Soma, A. K., St-Hilaire, G., Stekhanov, V., Sun, X. L., Tarka, M., Thibado, S., Tidball, A., Todd, J., Totev, T. I., Tsang, R., Tsang, T., Vachon, F., Veeraraghavan, V., Viel, S., Visser, G., Vivo-Vilches, C., Vuilleumier, J. -L., Wagenpfeil, M., Wager, T., Walent, M., Wang, Q., Wei, W., Wen, L. J., Wichoski, U., Worcester, M., Wu, S. X., Wu, W. H., Wu, X., Xia, Q., Yang, H., Yang, L., Zeldovich, O., Zhao, J., Zhou, Y., Ziegler, T.

Source: Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, A 1000 (2021) 165239

Subject Terms: Physics - Instrumentation and Detectors

Access URL: http://arxiv.org/abs/2009.10231

Reflectivity and PDE of VUV4 Hamamatsu SiPMs in Liquid Xenon

Authors: Nakarmi, P., Ostrovskiy, I., Soma, A. K., Retiere, F., Kharusi, S. Al, Alfaris, M., Anton, G., Arnquist, I. J., Badhrees, I., Barbeau, P. S., Beck, D., Belov, V., Bhatta, T., Blatchford, J., Breur, P. A., Brodsky, J. P., Brown, E., Brunner, T., Mamahit, S. Byrne, Caden, E., Cao, G. F., Cao, L., Chambers, C., Chana, B., Charlebois, S. A., Chiu, M., Cleveland, B., Coon, M., Craycraft, A., Dalmasson, J., Daniels, T., Darroch, L., Croix, A. De St., Der Mesrobian-Kabakian, A., DeVoe, R., Di Vacri, M. L., Dilling, J., Ding, Y. Y., Dolinski, M. J., Doria, L., Dragone, A., Echevers, J., Edaltafar, F., Elbeltagi, M., Fabris, L., Fairbank, D., Fairbank, W., Farine, J., Ferrara, S., Feyzbakhsh, S., Fontaine, R., Fucarino, A., Gallina, G., Gautam, P., Giacomini, G., Goeldi, D., Gornea, R., Gratta, G., Hansen, E. V., Heffner, M., Hoppe, E. W., Hößle, J., House, A., Hughes, M., Iverson, A., Jamil, A., Jewell, M. J., Jiang, X. S., Karelin, A., Kaufman, L. J., Koffas, T., Krücken, R., Kuchenkov, A., Kumar, K. S., Lan, Y., Larson, A., Leach, K. G., Lenardo, B. G., Leonard, D. S., Li, G., Li, S., Li, Z., Licciardi, C., Lv, P., MacLellan, R., Massacret, N., McElroy, T., Medina-Peregrina, M., Michel, T., Mong, B., Moore, D. C., Murray, K., Natzke, C. R., Newby, R. J., Ning, Z., Njoya, O., Nolet, F., Nusair, O., Odgers, K., Odian, A., Oriunno, M., Orrell, l J. L., Ortega, G. S., Overman, C. T., Parent, S., Piepke, A., Pocar, A., Pratte, J. -F., Radeka, V., Raguzin, E., Rescia, S., Richman, M., Robinson, A., Rossignol, T., Rowson, P. C., Roy, N., Runge, J., Saldanha, R., Sangiorgio, S., VIII, K. Skarpaas, St-Hilaire, G., Stekhanov, r V., Stiegler, T., Sun, X. L., Tarka, M., Todd, J., Totev, T. I., Tsang, R., Tsang, T., Vachon, F., Veeraraghavan, V., Viel, S., Visser, G., Vivo-Vilches, C., Vuilleumier, J. -L., Wagenpfeil, M., Wager, T., Walent, M., Wang, Q., Ward, M., Watkins, J., Weber, M., Wei, W., Wen, L. J., Wichoski, U., Wu, S. X., Wu, W. H., Wu, X., Xia, Q., Yang, H., Yang, L., Zeldovich, O., Zhao, J., Zhou, Y., Ziegler, T.

Subject Terms: Physics - Instrumentation and Detectors, High Energy Physics - Experiment

Access URL: http://arxiv.org/abs/1910.06438